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产品介绍- 测量原理:
单色波长色散X射线荧光 (MWD XRF) 技术采用的聚焦单色反射镜,提高了激发光的强度,与非聚焦和单色光WDXRF技术相比,改善了信噪比以及检测极限和精确度,降低了仪器对基体效应的敏感度。测量过程中,来自块反射镜的单色聚焦光束打在样品上,激发样品发射出特征荧光X射线。第二块单色反射镜筛选出硅的特征X射线,并将其反射聚焦到探测器上。MWD XRF是一种直接测量技术,不需要辅助气体或样品转化。
- 应用领域:
• 石油和生物燃料中的总硅含量分析
• 适用于炼油厂、管道终端、添加剂厂和检验实验室
- 仪器特点:
1)符合ASTM D7757 和NB/SH/T 0993
2)检测极限(LOD):0.65 ppm wt.
3)动态范围:0.65 ppm wt.到3000 ppm wt.
4)即插即用:使用普通电源
5)触摸式用户界面
6)用户可选择测量时间:30-900s
7)75W风冷式X光管
8)无需转换气体、加热元件、石英管或管柱
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