nybanner
产品中心

PRODUCTS

P

当前位置:首页  /  产品中心  /  美国哈希旗下品牌仪器  /  XOS  /  Signal 实验室硅含量元素分析仪

Signal 实验室硅含量元素分析仪

【简介】-测量原理:单色波长色散X射线荧光(MWDXRF)技术采用的聚焦单色反射镜,提高了激发光的强度,与非聚焦和单色光WDXRF技术相比,改善了信噪比以及检测极限和精确度,降低了仪器对基体效应的敏感度

产品型号:
更新时间:2026-05-19
厂商性质:代理商
访问量:28
产品介绍

- 测量原理:

单色波长色散X射线荧光 (MWD XRF) 技术采用的聚焦单色反射镜,提高了激发光的强度,与非聚焦和单色光WDXRF技术相比,改善了信噪比以及检测极限和精确度,降低了仪器对基体效应的敏感度。测量过程中,来自块反射镜的单色聚焦光束打在样品上,激发样品发射出特征荧光X射线。第二块单色反射镜筛选出硅的特征X射线,并将其反射聚焦到探测器上。MWD XRF是一种直接测量技术,不需要辅助气体或样品转化。


- 应用领域:

• 石油和生物燃料中的总硅含量分析

• 适用于炼油厂、管道终端、添加剂厂和检验实验室


- 仪器特点:

1)符合ASTM D7757 和NB/SH/T 0993

2)检测极限(LOD):0.65 ppm wt.

3)动态范围:0.65 ppm wt.到3000 ppm wt.

4)即插即用:使用普通电源

5)触摸式用户界面

6)用户可选择测量时间:30-900s

7)75W风冷式X光管

8)无需转换气体、加热元件、石英管或管柱


需要技术顾问为您答疑?

电话:021-56636920

邮箱:yumengsy@yumengsy.cn

给我们留言

及时与我们的团队取得联系,很乐意为您提供帮助

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
"注:请务必信息填写准确,并保持通讯畅通,我们会尽快与你取得联系

地址:上海市长宁区宣化路300号华宁国际广场中区7楼

邮箱:yumengsy@yumengsy.cn

电话:021-56636920

Copyright © 2026 上海雨萌实业有限公司 版权所有    备案号:沪ICP备14003253号-1

技术支持:化工仪器网    sitemap.xml

TEL:13816536989

扫码加微信